北京三和联是一家专业从事国产IC失效分析设备研发、生产、销售与售后服务的厂商。三和联有超过十年国内反应离子刻蚀机研发经验。失效分析实验室是奠定半导体产业发展的基石，三和联为您提供高效稳定的国产FA-RIE系列产品。近年来北京三和联公司研发部对失效分析实验室的投资逐步加大，为国产IC失效分析设备品牌发展助力。

静电：

当两种材料一起摩擦，一种材料丢失电子，另一种则收集电子，前者带正电，后者则带负电，如果两种摩擦的物体在分离的过程中电荷难以中和，电荷即会积累使物体带上静电。静电就是一种物体上的非移动的充电。

静电放电：

如果带静电的物体遇到合适的机会，它会将所带的电荷放掉，又回到中性，此过程即是静电放电 ESD 。

静电对电子元件的影响：

物体放电形式主要通过低电阻区域，放电电流I= O/t,即静电电荷变化量与完成这些静电电荷变化所用的时间之比。当I足够大时，能影响 P-N 结热击穿接合点，导致氧气层击穿，引起即时的和不可逆转的损坏，但这种损坏只有10% 可引起产品即时损坏，90%的产品可毫无觉察地通过测试，流到客户手里，但它的可靠性却大大地降低了，并且静电可吸附灰尘降低基片净化度，使IC 成品率下降。

北京三和联科技有限公司，专为失效分析实验室研发反应离子刻蚀机FA-RIE系列产品，助力失效分析实验室快速高效完成分析报告。